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芯片隔离耐压测试脉冲电源
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芯片隔离耐压测试脉冲电源

芯片隔离耐压测试脉冲源,0~3000V,150V/ns超快边沿,50kHz重复频率,用于隔离芯片瞬态高压耐压可靠性测试,可定制。

输出幅度0~1500V,脉冲上升下降速度可达150V/ns(1500V仅需7ns),重复频率50kHz,脉冲宽度50ns~10μs可调。 超快边沿脉冲输出,精准模拟高压瞬态冲击,专门用于隔离芯片、隔离器件的脉冲隔离耐压性能测试,考核芯片隔离层抗高压瞬态击穿能力,支持按需定制。

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芯片隔离耐压测试脉冲源

 

输出幅度0~1500V,脉冲上升下降速度可达150V/ns(1500V仅需7ns),重复频率50kHz,脉冲宽度50ns~10μs可调。

超快边沿脉冲输出,精准模拟高压瞬态冲击,专门用于隔离芯片、隔离器件的脉冲隔离耐压性能测试,考核芯片隔离层抗高压瞬态击穿能力,支持按需定制。

 


✅ 输出幅度:0-1500V

✅ 边沿性能:上升下降速度150V/ns,1500V上升仅7ns,超快速前沿

✅ 重复频率:50kHz

✅ 脉冲宽度:50ns -10μs可调

✅ 应用场景:隔离芯片、半导体隔离器件脉冲隔离耐压测试,评估器件高压瞬态隔离可靠性,支持按需定制


芯片隔离耐压测试脉冲源,0~3500V,150V/ns超快边沿,50kHz重复频率,用于隔离芯片瞬态高压耐压可靠性测试,可定制。

 

芯片隔离耐压



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